一种面向SRAM型FPGA的三模冗余分区自修复方法研究
所属分类:技术论文
上传者:aetmagazine
文档大小:539 K
标签: 单粒子效应 FPGA 三模冗余分区
所需积分:0分积分不够怎么办?
文档介绍:SRAM型FPGA的低成本及其现场可编程性使其在航空航天工业中很受欢迎。为解决FPGA受宇宙辐射引起的单粒子效应(Single Event Effect,SEE),常使用三模冗余(Triple Modular Redundancy,TMR)这一缓解技术。该技术通常与配置刷新技术一起用来加固基于SRAM的FPGA。传统的TMR只能针对单个故障提供一次保护,而将三模冗余结构进行分区可以增强其环境适应性。研究了一种将配置刷新和分区三模冗余结合的方法,并采用PRISM工具进行模型验证,结果表明该方法可以增强系统的可用性。
现在下载
VIP会员,AET专家下载不扣分;重复下载不扣分,本人上传资源不扣分。
Baidu